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会议论文详细信息

电真空器件与晶体管器件故障机理分析       

文献类型:会议

作  者:吴贺谦 赵霁

作者单位:第二航空学院(长春) 第二航空学院(长春)_

会议文献:第七届全国可靠性物理学术讨论会论文集

会议名称:第七届全国可靠性物理学术讨论会

会议日期:19970921

会议地点:云南大理

主办单位:中国电子学会

出版日期:19970921

语  种:中文

摘  要:从理论和实践的结合上较详细地分析了电子器件的失效机理,为预防电子器件失效保证电子设备系统正常工作提供了依据。

关 键 词:电真空器件 半导体器件 故障机理

分 类 号:TN10] TN306

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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