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专利详细信息

具有叠片式准直器的X荧光光谱分析仪       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201721148300.X

申 请 日:20170907

发 明 人:吴娜

申 请 人:北京邦鑫伟业技术开发有限公司

申请人地址:102200 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区

公 开 日:20180323

公 开 号:CN207133210U

代 理 人:黄德海

代理机构:11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)

语  种:中文

摘  要:本实用新型公开一种具有叠片式准直器的X荧光光谱分析仪,包括X射线发生装置、真空测量室及固定元素道分光器。固定元素道分光器包括入射狭缝管组件、分光盒组件和出射狭缝管组件。入射狭缝管组件包括入射通道管体、一级准直器及入射狭缝宽度调节结构;出射狭缝管组件包括出射通道管体、二级准直器及出射狭缝宽度调节结构;一级准直器和二级准直器中的至少一个准直器包括准直组件、压块和光栏。准直组件包括多个间隔块和多个金属片,间隔块和金属片交错层叠设置;压块压紧准直组件的一侧,以使准直组件固定在入射通道管体和出射通道管体的至少一个通道管体上;光栏设置在至少一个准直器的尾端部。如此,可降低能量的损耗,装配简单。

主 权 项:1.一种具有叠片式准直器的X荧光光谱分析仪,包括X射线发生装置、真空测量室及多个固定元素道分光器,其特征在于:所述固定元素道分光器包括入射狭缝管组件、与入射狭缝管组件的尾端部连接的分光盒组件、与分光盒组件连接的出射狭缝管组件;所述入射狭缝管组件包括入射通道管体、一级准直器及安装在所述一级准直器的首端部的入射狭缝宽度调节结构;所述出射狭缝管组件包括出射通道管体、二级准直器及安装在所述二级准直器的首端部的出射狭缝宽度调节结构;所述分光盒组件包括盒体以及安装在所述盒体内部的平晶组件,所述平晶组件包括平晶、晶体托架和入射角调节机构;所述入射通道管体的入射光轴通过所述平晶的中心,所述入射光轴的入射角等于被测元素的衍射角,所述出射通道管体的出射光轴通过所述平晶的中心,出射光轴的出射角等于入射光轴的入射角;所述一级准直器和所述二级准直器中的至少一个准直器包括:准直组件,所述准直组件包括多个间隔块和多个金属片,所述间隔块和所述金属片交错层叠设置;压块,所述压块压紧所述准直组件的一侧,以使所述准直组件固定在所述入射通道管体和所述出射通道管体的至少一个通道管体上;及光栏,所述光栏设置在所述至少一个准直器的尾端部。

关 键 词:准直器 准直组件  通道管体  固定元素道分光器  出射狭缝管组件  入射狭缝管组件  宽度调节结构  二级准直器  入射通道  间隔块  金属片 出射  管体  光栏  压块  本实用新型  分光盒组件  真空测量室  出射狭缝  交错层叠  入射狭缝  叠片式  尾端部  压紧  装配  

IPC专利分类号:G01N23/223(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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