登录    注册    忘记密码

专利详细信息

半导体激光器用外延片       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201520710645.4

申 请 日:20150914

发 明 人:马淑芳 田海军 吴小强 梁建 董海亮

申 请 人:山西飞虹微纳米光电科技有限公司

申请人地址:041600 山西省临汾市洪洞县甘亭镇燕壁村飞虹科技

公 开 日:20151230

公 开 号:CN204927806U

代 理 人:董芙蓉

代理机构:11385 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司

语  种:中文

摘  要:本实用新型公开了一种半导体激光器用外延片。在n-GaAs衬底上由下至上外延生长n-GaAs缓冲层,n-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As渐变层,n-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As下限制层,Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As下波导层,有源层,Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As上波导层,p-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As上限制层,p-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As渐变层,p-GaAs顶层。其制备方法是:采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)的方法在n-GaAs衬底上至下而上依次外延生长各层。本实用新型可以减少电子散失,提高有源区内电子与空穴的辐射复合效率。可以生长出高质量的晶体,能提供更深的载流子阱和更大的增益;应变补偿量子阱具有带阶大,波长漂移速度更低和透明载流子浓度更低等优势。

主 权 项:1.一种半导体激光器外延片,其特征在于:所述外延片的结构为:在n-GaAs衬底上由下至上外延生长n-GaAs缓冲层,n-AlxGa1-xAs渐变层,n-AlxGa1-xAs下限制层,AlxGa1-xAs下波导层,有源层,AlxGa1-xAs上波导层,p-AlxGa1-xAs上限制层,p-AlxGa1-xAs渐变层,p-GaAs顶层;所述AlxGa1-xAs上波导层的厚度小于所述AlxGa1-xAs下波导层厚度;所述有源层采用应变补偿量子阱结构。

关 键 词:外延生长  衬底上  渐变层  金属有机化学气相沉积 载流子 应变补偿量子阱  空穴  半导体激光器  辐射复合效率  载流子浓度 波长漂移 上波导层  上限制层  下波导层  下限制层  由下至上  制备方法  外延片 有源层 实用  增益  顶层  散失  一种  有源  透明  生长  公开  减少  

IPC专利分类号:H01S5/343(20060101)

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心