专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:实用新型
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN201520710645.4
申 请 日:20150914
申 请 人:山西飞虹微纳米光电科技有限公司
申请人地址:041600 山西省临汾市洪洞县甘亭镇燕壁村飞虹科技
公 开 日:20151230
公 开 号:CN204927806U
代 理 人:董芙蓉
代理机构:11385 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
语 种:中文
摘 要:本实用新型公开了一种半导体激光器用外延片。在n-GaAs衬底上由下至上外延生长n-GaAs缓冲层,n-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As渐变层,n-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As下限制层,Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As下波导层,有源层,Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As上波导层,p-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As上限制层,p-Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As渐变层,p-GaAs顶层。其制备方法是:采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)的方法在n-GaAs衬底上至下而上依次外延生长各层。本实用新型可以减少电子散失,提高有源区内电子与空穴的辐射复合效率。可以生长出高质量的晶体,能提供更深的载流子阱和更大的增益;应变补偿量子阱具有带阶大,波长漂移速度更低和透明载流子浓度更低等优势。
主 权 项:1.一种半导体激光器外延片,其特征在于:所述外延片的结构为:在n-GaAs衬底上由下至上外延生长n-GaAs缓冲层,n-AlxGa1-xAs渐变层,n-AlxGa1-xAs下限制层,AlxGa1-xAs下波导层,有源层,AlxGa1-xAs上波导层,p-AlxGa1-xAs上限制层,p-AlxGa1-xAs渐变层,p-GaAs顶层;所述AlxGa1-xAs上波导层的厚度小于所述AlxGa1-xAs下波导层厚度;所述有源层采用应变补偿量子阱结构。
关 键 词:外延生长 衬底上 渐变层 金属有机化学气相沉积 载流子 应变补偿量子阱 空穴 半导体激光器 辐射复合效率 载流子浓度 波长漂移 上波导层 上限制层 下波导层 下限制层 由下至上 制备方法 外延片 有源层 实用 增益 顶层 散失 一种 有源 透明 生长 公开 减少
IPC专利分类号:H01S5/343(20060101)
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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