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专利详细信息

硅片单片清洗工艺腔体结构       

文献类型:专利

专利类型:实用新型

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN200820140154.0

申 请 日:20081015

发 明 人:侯瑞兵

申 请 人:北京中联科伟达技术股份有限公司

申请人地址:100012 北京市朝阳区北苑路40号(北京有色金属与稀土应用研究所院内)

公 开 日:20091216

公 开 号:CN201364880Y

代 理 人:毛燕生

代理机构:11255 北京市商泰律师事务所

语  种:中文

摘  要:硅片单片清洗工艺腔体结构,属于半导体硅片清洗领域。由载片台、旋转系统和多重药液收集杯组成,载片台支撑硅片,旋转系统带动载片台旋转,药液收集杯单独上下运动,一个药液收集杯开启,其它工艺药液收集杯均处于密闭状态。每个药液收集杯在空间上处于相对独立状态。本实用新型对不同工艺的药液的收集在空间上相对独立,有效地减少了药液间的交叉污染,对药液回收后的后续处理、再利用、排放等提供了极大便利。同时因为沉积物的减少,方便了设备的维护保养,延长了设备使用寿命。

主 权 项:1.一种硅片单片清洗工艺腔体结构,由载片台、旋转系统和多重药液收集杯组成,,其特征是:载片台支撑硅片,旋转系统带动载片台旋转,药液收集杯单独上下运动,一个药液收集杯开启,其它工艺药液收集杯均处于密闭状态。

关 键 词:载片  旋转系统  硅片 沉积物  设备使用寿命  半导体硅片 独立状态  交叉污染 密闭状态  腔体结构 清洗工艺 维护保养  药液回收  单片 旋转  排放  支撑  

IPC专利分类号:H01L21/00(20060101);H01L21/02(20060101);H01L21/306(20060101);B08B3/00(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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