专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:实用新型
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN200620134101.9
申 请 日:20061018
申 请 人:北京邦鑫伟业技术开发有限公司
申请人地址:102200 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区
公 开 日:20071031
公 开 号:CN200968940Y
代 理 人:鲁兵
代理机构:11245 北京纪凯知识产权代理有限公司
语 种:中文
摘 要:本实用新型公开了一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪,它包括X光管及X射线发生装置、若干个固定元素道分光器、真空测量室和抽真空系统、自动控制系统、探测器、元素特征X射线谱峰检测装置以及上位PC计算机;所述元素特征X射线谱峰检测装置包括有至少一块多路MCA卡板和一本机控制计算机,该多路MCA卡板的电路在本机控制计算机的控制下实时采集来自多个探测器的脉冲信号,并进行模数变换,将脉冲高度变换成数字量后通过本机控制计算机将谱峰数据传送给上位PC计算机。与传统的仪器相比,本实用新型可以实现各元素道谱峰的全谱实时检测,不仅极大的方便了仪器的调试、性能检验和故障诊断,而且有利于提高仪器的稳定性和可靠性。
主 权 项:1、一种多元素同时测定型X荧光光谱分析仪,它包括X光管及X射线发生装置、若干个固定元素道分光器、真空测量室和抽真空系统、自动控制系统、探测器、元素特征X射线谱峰检测装置以及上位PC计算机,其特征在于:所述元素特征X射线谱峰检测装置包括有至少一块多路MCA卡板和一本机控制计算机,该多路MCA卡板的电路在本机控制计算机的控制下实时采集来自多个探测器的脉冲信号,并进行模数变换,将脉冲高度变换成数字量后通过本机控制计算机将谱峰数据传送给上位PC计算机。
关 键 词:控制计算机 检测装置 元素特征 探测器 多路 卡板 变换 多元素同时测定 稳定性和可靠性 自动控制系统 抽真空系统 发生装置 故障诊断 固定元素 脉冲高度 脉冲信号 实时采集 实时检测 数据传送 性能检验 荧光光谱 真空测量 分析仪 计算机 数字量 分光 模数 电路 调试
IPC专利分类号:G01N23/223(20060101)
参考文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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