专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN202010879194.2
申 请 日:20200827
申 请 人:北京天瑞星光热技术有限公司
申请人地址:100089 北京市海淀区知春路61号院科研楼916室
公 开 日:20220614
公 开 号:CN112146568B
代 理 人:李博洋
代理机构:北京三聚阳光知识产权代理有限公司
语 种:中文
摘 要:本发明公开了一种目标对象组装精度的检测方法、装置及系统,其中,该方法包括:根据目标对象的宽度值,确定目标对象的第一方向的多个第一特征点;分别获取各第一特征点的第一坐标值及第二坐标值;根据第一坐标值、预设参数值,确定第二坐标值的理论值;继而确定第一特征点的组装精度;根据目标对象的第一方向的多个第一特征点,确定第二方向的多个第二特征点;分别获取第二特征点的第三坐标值及第四坐标值;根据第三坐标值、预设参数值,确定第四坐标值的理论值;继而确定第二特征点的组装精度;根据目标对象的第一方向的多个第一特征点的组装精度以及目标对象的第二方向的多个第二特征点的组装精度,确定目标对象的组装精度。
主 权 项:1.一种目标对象组装精度的检测方法,其特征在于,包括:根据目标对象的特征长度,确定所述目标对象的第一方向的多个第一特征点;分别获取各所述第一特征点的第一坐标值以及第二坐标值,所述第一坐标值为所述第一特征点在第一坐标方向上的坐标值,所述第二坐标值为所述第一特征点在第二坐标方向上的坐标值;根据所述第一坐标值、预设参数值,确定所述第二坐标值的理论值;根据所述第二坐标值以及所述第二坐标值的理论值,确定所述第一特征点的组装精度;根据所述目标对象的第一方向的多个第一特征点,确定所述目标对象的第二方向的多个第二特征点;分别获取第二特征点的第三坐标值以及第四坐标值,所述第三坐标值为所述第二特征点在第一坐标方向上的坐标值,所述第四坐标值为所述第二特征点在第二坐标方向上的坐标值;根据所述第三坐标值、预设参数值,确定所述第四坐标值的理论值;根据所述第四坐标值以及所述第四坐标值的理论值,确定所述第二特征点的组装精度;根据所述目标对象的第一方向的多个第一特征点的组装精度以及所述目标对象的第二方向的多个第二特征点的组装精度,确定所述目标对象的组装精度。
关 键 词:特征点 目标对象 组装 预设 装置及系统 检测
IPC专利分类号:G01B11/00
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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