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专利详细信息

微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201710109577.X

申 请 日:20170227

发 明 人:刘秦豫 吴哲 张天琪 王先松

申 请 人:深圳中物安防科技有限公司

申请人地址:518000 广东省深圳市福田区保税区深福保科技工业园A栋六层C单元

公 开 日:20170829

公 开 号:CN107101980A

代 理 人:赵勍毅

代理机构:44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)

语  种:中文

摘  要:本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,包括:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。本发明还涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿系统。本发明能够根据膜片使用状态进行动态的数据补偿,稳定仪器的灵敏度和误报率,增加膜片的使用寿命。

主 权 项:1.一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。

关 键 词:膜片  荧光探测仪  平滑滤波 原始数据  微痕量  检测  补偿系统 使用寿命  数据补偿  荧光材料  灵敏度  动态的  误报率  荧光 采集  修正  

IPC专利分类号:G01N21/64(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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