专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN201710109577.X
申 请 日:20170227
申 请 人:深圳中物安防科技有限公司
申请人地址:518000 广东省深圳市福田区保税区深福保科技工业园A栋六层C单元
公 开 日:20170829
公 开 号:CN107101980A
代 理 人:赵勍毅
代理机构:44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
语 种:中文
摘 要:本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,包括:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。本发明还涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿系统。本发明能够根据膜片使用状态进行动态的数据补偿,稳定仪器的灵敏度和误报率,增加膜片的使用寿命。
主 权 项:1.一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:a.采集获得膜片荧光值的原始数据;b.对上述原始数据进行平滑滤波;c.根据上述平滑滤波后的数据,计算得到检测峰值;d.对上述检测峰值进行修正,以对荧光材料检测有效值进行补偿。
关 键 词:膜片 荧光探测仪 平滑滤波 原始数据 微痕量 检测 补偿系统 使用寿命 数据补偿 荧光材料 灵敏度 动态的 误报率 荧光 采集 修正
IPC专利分类号:G01N21/64(20060101)
参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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