文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201710897396.8

申 请 日：20170928

发 明 人：李中伟 詹国敏 钟凯

申 请 人：武汉惟景三维科技有限公司

申请人地址：430070 湖北省武汉市高新大道999号

公 开 日：20180309

公 开 号：CN107773246A

代 理 人：方可

代理机构：42224 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)

语　　种：中文

摘　　要：本发明属于图像处理技术领域，公开了一种基于光学三维测量的耳廓缺损测量方法，包括下述步骤：利用结构光三维测量方法分别获取测试对象的两侧耳廓完整点云数据；将测量得到的点云数据拼合，以将点云统一到一个三维坐标系下；在三维坐标系下对拼合完成的耳廓点云进行分割，将完整的耳廓从点云数据中分割出来；将分割出来的点云数据投影至平面以创建外轮廓，获取点云投影面积并通过迭代优化得到点云最大投影面积；将测试对象两侧耳廓的最大投影面积相除，得到耳廓缺损比例；本发明的方法将结构光三维测量技术引入耳廓缺损鉴定领域，将高速三维测量技术与针对耳廓缺损鉴定提出的数据处理方法结合，实现了耳廓缺损测量方法的自动化。

主 权 项：1.一种基于光学三维测量的耳廓缺损测量方法，其特征在于，包括下述步骤：S101、利用结构光三维测量方法分别获取测试对象的两侧耳廓完整点云数据；S102、将测量得到的点云数据拼合，以将点云数据统一到同一个三维坐标系下；S103、在三维坐标系下对拼合得到的耳廓点云数据进行分割，将完整的耳廓从点云数据中分割出来；S104、将分割出来的点云数据投影至平面以创建外轮廓，获取点云投影面积并通过迭代优化得到点云最大投影面积；S105、将测试对象两侧耳廓的最大投影面积相除，得到耳廓缺损比例。

关 键 词：耳廓缺损 点云 耳廓 投影  三维测量技术  三维坐标系  测试对象  点云数据 测量  结构光 分割  点云数据拼合  光学三维测量  图像处理技术  完整点云数据  迭代优化 鉴定领域  三维测量  数据处理  外轮廓  拼合 相除  自动化  引入  创建  统一  

IPC专利分类号：A61B5/107(20060101)