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专利详细信息

一种基于SIMION仿真的离子整形透镜结构设计       

文献类型:专利

专利类型:发明专利

是否失效:

是否授权:

申 请 号:CN201611246989.X

申 请 日:20161229

发 明 人:夏波涌 王海燕 李丽萍 王祥胜

申 请 人:王海燕 江苏易谱恒科技有限公司

申请人地址:210000 江苏省南京市经济技术开发区兴科路12号科创基地103室

公 开 日:20170531

公 开 号:CN106783507A

语  种:中文

摘  要:本发明公开了一种基于SIMION仿真的离子整形透镜结构设计,首先通过SIMION对离子飞行轨迹进行分析,据此设计一种离子整形透镜装置。所述仿真过程为利用SIMION对离子飞行轨迹进行分析,主要包括建立离子飞行轨迹模型,及采用SIMION仿真进行参数优化。所述离子整形透镜为三个直径相同的同轴圆筒形电极组合而成的单透镜,所述离子透镜安装于飞行时间质谱仪的真空系统中,用于离子进行聚焦,减低离子空间发散的程度及能量、速度、角度的分散程度,以使得离子最大化地到达质量分析器。

主 权 项:1.一种基于SIMION仿真的离子整形透镜结构设计,其特征在于其设计过程首先通过SIMION软件对离子飞行轨迹进行分析,据此设计一种离子整形透镜装置。

关 键 词:离子 离子飞行  整形透镜  飞行时间质谱仪 质量分析器 参数优化  电极组合  仿真过程  轨迹模型  离子空间  离子透镜  同轴圆筒  真空系统 单透镜  最大化  发散  分析  聚焦  

IPC专利分类号:H01J49/06(20060101);H01J49/40(20060101)

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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