文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201510195009.7

申 请 日：20150423

发 明 人：马策 张鹏程 窦作勇 王茂银 崔啟良 祝洪祥 李云 陈力 董平 李瑞文 朱旭

申 请 人：中国工程物理研究院材料研究所 四川艺精科技集团有限公司

申请人地址：621700 四川省绵阳市江油市华丰新村9号

公 开 日：20150708

公 开 号：CN104764761A

代 理 人：张新

代理机构：成都天嘉专利事务所(普通合伙)

语　　种：中文

摘　　要：本发明公开了一种测量静高压下物质相变的方法，采用短波长X射线衍射方法测量金刚石对顶砧（DiamondAnvilCell）内物质高压结构相变。本发明利用短波长X射线的高能量、高穿透性，实现对金刚石压砧内材料的X射线衍射。本发明的特点是提高了测试效率和精度，给高压研究者提供了良好的实验技术手段，特别适用于高原子序数的高压相变研究，为在普通实验室内完成高压X射线衍射实验提供一种新的途径。

主 权 项：1.一种测量静高压下物质相变的方法，步骤为： 步骤一，在常压下将样品放置于压机的金刚石压砧腔体内； 步骤二，将压机放入短波长X射线衍射装置，使样品位于衍射中心； 步骤三，移动探测器到坐标原点，启动X光管高压系统，采用低电压、低电流激发阳极靶，通过X轴的轴向移动，确定X轴的样品中心； 步骤四，移动探测器到坐标原点，固定X轴的位置为步骤二中样品中心位置，启动短波长X射线衍射装置高压系统，采用低电压、低电流激发阳极靶，通过Y轴的轴向移动，确定Y轴的样品中心； 步骤五，固定X轴、Y轴为步骤三、步骤四种确定样品中心，移动探测器到2θ=样品晶体衍射的最强峰，短波长X射线衍射装置采用高电压、高电流激发阳极靶，通过Z轴的轴向移动，根据最强的衍射信号确定Z轴样品中心； 步骤六，样品定位到步骤三、步骤四、步骤五确定的位置，短波长X射线衍射装置采用高电压、高电流激发阳极靶，移动探测器采谱； 步骤七，取下压机，施加一定压力，重复步骤二至步骤六，得到样品各个压力点下的X射线衍射谱，进一步得到样品的晶体结构。

关 键 词：相变  短波 测量金刚石  普通实验室  金刚石 测试效率  高压结构  实验技术  衍射方法 衍射实验 原子序数 衍射 穿透  研究  

IPC专利分类号：G01N23/207(20060101)