专利详细信息
文献类型:专利
专利类型:发明专利
是否失效:否
是否授权:否
申 请 号:CN201210023028.8
申 请 日:20120202
申 请 人:天利半导体(深圳)有限公司
申请人地址:518000 广东省深圳市南山区科技园南区高新南一道中国科技开发院3号塔楼7楼
公 开 日:20120711
公 开 号:CN102571039A
代 理 人:张明
代理机构:44275 深圳市博锐专利事务所
语 种:中文
摘 要:本发明公开了一种级联数字信号修复模块、传输系统及修复方法,其中,数字信号修复模块,包括检测控制单元、缓冲单元、反相器;所述检测控制单元包括用于检测数字信号衰减程度的检测器、用于根据衰减程度判断衰减电平类型的第一判断器和用于根据衰减电平类型产生修复信号的控制器,所述控制器包括输入端、第一输出端、第二输出端;所述反相器包括P型MOS管和N型MOS管,所述P型MOS管的源极连接电源,所述P型MOS管的漏极与所述N型MOS管的漏极相连接,所述N型MOS管的源极接地;本发明能够修复缓冲单元中由于MOS管工艺的不同而对数字信号的衰减,能够保证数字信号的传输质量。
主 权 项:1.一种级联数字信号修复模块,其特征在于,包括检测控制单元、缓冲单元、反相器;所述检测控制单元包括用于检测数字信号衰减程度的检测器、用于根据数字信号衰减程度判断数字信号衰减电平类型的第一判断器和用于根据数字信号衰减电平类型产生修复信号的控制器,所述控制器包括输入端、第一输出端、第二输出端;所述反相器包括P型MOS管和N型MOS管,所述P型MOS管的源极连接电源,所述P型MOS管的漏极与所述N型MOS管的漏极相连接,所述N型MOS管的源极接地;所述缓冲单元的输入端用于外接输入数字信号,所述缓冲单元的输出端连接至所述反相器中P型MOS管漏极与N型MOS管漏极连接的公共接点;所述检测器的输入端用于外接输入数字信号,所述检测器的输出端连接至所述第一判断器的输入端,所述第一判断器的输出端连接至所述控制单元的输入端,所述控制器的第一输出端连接至所述反相器中P型MOS管的栅极,所述控制器的第二输出端连接至所述反相器中N型MOS管的栅极。
关 键 词:数字信号 缓冲单元 检测控制 衰减程度 衰减电平 修复模块 控制器 反相器 输出端 漏极 源极 检测器 传输系统 传输质量 修复方法 修复信号 接地 输入端 连接 级联 衰减 电源 修复 检测
IPC专利分类号:H03K5/04(20060101)
参考文献:
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二级参考文献:
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耦合文献:
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引证文献:
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二级引证文献:
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同被引文献:
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