文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN201010136040.0

申 请 日：20100331

发 明 人：刘俊玲 郭学冬 高攀 张维平 赵勤

申 请 人：北京众智同辉科技有限公司

申请人地址：100166 北京市丰台区张仪村50号

公 开 日：20121107

公 开 号：CN102207445B

语　　种：中文

摘　　要：本发明涉及一种聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，包括一个稳态湿热箱，将聚合物分散型液晶膜样品置于所述稳态湿热箱中进行老化处理；老化处理完毕后取出所述聚合物分散型液晶膜样品，人工测量所述聚合物分散型液晶膜样品边缘的开胶长度尺寸和宽度尺寸；所述老化处理的时间是45-50小时，所述老化处理的温度是55℃-65℃，所述老化处理的湿度是90％-99％。本发明真实模拟大气和使用环境条件，采用湿热老化方式加速聚合物分散型液晶膜性能的改变，加速胶层的老化和湿气的渗透，从而获得可靠结果，为后期使用、储存提供参考依据，以便改进和提高产品的使用寿命。

主 权 项：1.一种聚合物分散型液晶膜开胶性能的检测方法，其特征在于：包括一个稳态湿热箱，将聚合物分散型液晶膜样品置于所述稳态湿热箱中进行老化处理；老化处理完毕后取出所述聚合物分散型液晶膜样品，人工测量所述聚合物分散型液晶膜样品边缘的开胶长度尺寸和宽度尺寸；所述老化处理的时间是45-50小时，所述老化处理的温度是55℃-65℃，所述老化处理的湿度是90％-99％。

关 键 词：老化处理  聚合物分散型液晶  湿气 分散型液晶  加速聚合物  长度尺寸  可靠结果  宽度尺寸  老化方式  模拟大气  人工测量  胶层 湿度  储存  检测  渗透  

IPC专利分类号：G01N17/00(20060101)