文献类型：专利

专利类型：发明专利

是否失效：否

是否授权：否

申 请 号：CN200910237206.5

申 请 日：20091105

发 明 人：金海彬 吴静 郝婷婷

申 请 人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一四研究所

申请人地址：100080 北京市海淀区知春路82号院航天恒星楼

公 开 日：20120822

公 开 号：CN101900761B

代 理 人：闫强

代理机构：11129 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司

语　　种：中文

摘　　要：为了获得高准确的谐波测量结果，本发明提供了一种谐波测量方法，对被测量信号进行采样，对采样结果进行DFT或FFT处理，得到离散频谱，从离散频谱中选取若干谱线修正长范围频谱泄漏、短范围频谱泄漏、负频点泄漏等造成的测量误差，得到高准确度的谐波测量结果。本发明可应用于谐波的精密测量领域。

主 权 项：1.一种高准确度非整周期采样谐波分析测量方法，包括：A、对包含谐波的被测量信号进行采样的步骤，和B、对得到的采样样本进行DFT或FFT处理的步骤，其特征在于还包括如下步骤：C、从经过步骤B处理得到的离散频谱中选取谱线，选取的规则是：选取谱线的数量为K+1，K为大于1的自然数，K的值为基波数量和要测量的谐波数量之和；选取的谱线为第p₁根谱线，第p₂根谱线，......，第p_(K+1)根谱线，其中p₁，p₂，…，p_K+1为谱线在离散频谱中的序号；第p₁根谱线的实部为虚部为第p₂根谱线的实部为虚部为第p₃根谱线的实部为虚部为......，第p_(K+1)根谱线的实部为虚部为第p₁根谱线选取离散频谱中谱峰最大的�

关 键 词：离散频谱 频谱泄漏 谐波测量 精密测量领域  谐波测量方法  准确度  采样结果  测量误差  测量信号  采样 谐波 泄漏  修正  

IPC专利分类号：G01R23/16(20060101)