期刊文章详细信息
深亚微米全差分采样/保持电路设计 ( EI收录)
Design of a deep sub-micron full differential sample/hold circuit
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京工业大学集成电路与系统实验室,北京100022
年 份：2006
卷 号：27
期 号：z1
起止页码：145-147
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要：本文介绍采用深亚微米CMOS工艺设计的全差分采样/保持电路,该电路应用下极板采样技术和全差分结构以消除开关电荷注入和时钟馈通引起的误差,从而获得高精度。设计采用0.18μm CMOS工艺条件并通过spectre软件模拟仿真,结果表明电路在3 V电源电压和50MHz采样频率工作条件下能够稳定工作。
关 键 词：CMOS深亚微米 全差分 下极板采样
分 类 号：TH7-55[仪器类]
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