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电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化镧中稀土和非稀土杂质 ( EI收录)
Determination of Trace REEs and Non-REEs Impurities in High Pure Lanthanum Oxide by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]江西省分析测试中心,江西南昌330029
年 份:2004
卷 号:25
期 号:4
起止页码:204-208
语 种:中文
收录情况:AJ、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、普通刊
摘 要:利用电感耦合等离子体质谱技术研究建立了直接测定高纯氧化镧中 1 4种稀土及 1 8种非稀土杂质的分析方法。考察了测量过程中的质谱干扰及基体元素产生的基体效应。引入内标元素 In,有效补偿了基体元素对待测元素的抑制效应 ,选择同位素建立校正公式克服了质谱干扰。稀土杂质的测定下限为 0 .0 0 1 2~0 .0 0 93 μg/g,非稀土杂质测定下限为 0 .0 0 2 3~ 0 .67μg/g,加标回收率达到 92 %~ 1 0 8% ,相对标准偏差( RSD)为 0 .4%~ 3 .3 % ,方法适于 99.99%~ 99.
关 键 词:电感耦合等离子体质谱(ICP-MS) 高纯氧化镧 稀土和非稀土杂质
分 类 号:O657.63] O614.33[化学类]
参考文献:
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引证文献:
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