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期刊文章详细信息

光学经纬仪的光学测微器行差检定中应注意的几个问题    

  

文献类型:期刊文章

作  者:张卫东[1] 王冬梅[2]

机构地区:[1]河南省计量科学研究院,郑州450008 [2]河南省测绘产品质量监督检验站,郑州450003

出  处:《计量技术》

年  份:2005

期  号:1

起止页码:41-43

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:本文通过对仪器光学测微器 (带尺显微镜 )结构和其行差产生因素的分析以及对行差性质的阐述 ,说明应根据经纬仪的不同读数特点 。

关 键 词:光学经纬仪 光学测微器  行差 检定 测量点

分 类 号:TH761.1[仪器类]

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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