文献类型：期刊文章

作　　者：杨穆尔[1] 孙静[1]

机构地区：[1]清华大学经济管理学院管理科学与工程系,北京100084

出　　处：《清华大学学报（自然科学版）》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(70472010;70321001)

年　　份：2006

卷　　号：46

期　　号：3

起止页码：403-406

语　　种：中文

收录情况：AJ、AMR、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：多元自相关过程不满足现行多元质量控制理论的前提假设。该文探讨了两个随机变量相互独立,其中一个随机变量的观测值相互独立、另一随机变量服从一阶自回归模型的二元自相关过程。在参数已知的条件下,提出了二元自相关过程的残差T2控制图。通过M on te C arlo模拟,得到了一族该二元自相关过程在不同偏移量下的平均链长。分析结果表明残差T2控制图的适用范围由自相关的强弱和偏移量的大小决定,可以有效监控大部分该类二元自相关过程。

关 键 词：多元统计过程控制  自相关过程  T^2控制图  

分 类 号：O213.1]