期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]东北电子技术研究所,辽宁锦州121000 [2]空军驻锦州地区军事代表室,辽宁锦州121000
年 份:2006
卷 号:21
期 号:2
起止页码:43-46
语 种:中文
收录情况:IC、普通刊
摘 要:阐述了潜通路的基本概念,说明了产生潜通路的原因及种类,并指出了它在电子系统中造成的巨大危害.简要地介绍了潜通路分析技术的应用与发展.重点介绍了潜通路的分析过程和应用线索,并通过分析具体电路对潜通路分析技术加以说明.最后展望了潜通路分析技术的应用前景.
关 键 词:潜通路 潜在分析技术 应用线索
分 类 号:TN707]
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