登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

长期存放条件下TFT阵列基板栅金属线腐蚀原因分析    

The Corrosion of the TFT's Metal Lines

  

文献类型:期刊文章

作  者:林鸿涛[1] 王鹏[2]

机构地区:[1]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130021 [2]吉林北方彩晶数码电子有限公司,吉林长春130033

出  处:《现代显示》

年  份:2006

期  号:7

起止页码:50-52

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:在TFT-LCD制造和存放过程中,存在着电化学腐蚀的环境,由于腐蚀速度相对较慢,所以对此现象的认识和研究不足。本文通过实例分析,研究了栅金属电极线在大气环境下的腐蚀现象和机理,并提出了降低腐蚀的措施。

关 键 词:栅金属线  腐蚀  长期存放  原因分析  

分 类 号:TN141.9]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心