期刊文章详细信息
系统芯片SOC的BIST测试研究
Testing research for the SOC logic BIST
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]安徽经济管理学院,合肥230059 [2]安徽省公路工程技校,合肥230051
年 份：2006
卷 号：14
期 号：3
起止页码：59-61
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：针对系统芯片SOC测试出现的难题,介绍了几种目前国际上研究较热的内建自测试BIST(Built InSelf Testing)方法,分析了这几种方法的优缺点,并对其作出探讨,最后,展望了系统芯片SOC的BIST发展。
关 键 词：SOC芯片 伪随机测试 测试模式 BIST
分 类 号：TP391]
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