期刊文章详细信息
有关X射线测厚仪技术的研究
Research on the Technique of X-ray Thickness Gauge
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]北京化工大学自动化研究所,北京100029
年 份：2007
卷 号：28
期 号：1
起止页码：65-66
语 种：中文
收录情况：CAS、CSA、CSA-PROQEUST、INSPEC、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要：对西门子PLC(可编程控制器)在薄膜测厚仪上的应用进行了研究,并比较了传统的以工控机为核心的电控系统与以PLC为电控核心的系统的优缺点。详细介绍了测厚仪电控系统的组成和原理,同时对测厚数据的处理方法进行了说明。实践表明,该系统控制结构简单,有较高的运行效率和可靠性。整套装置已成功运行在聚丙烯双向拉伸薄膜生产线上。
关 键 词：可编程控制器 测厚仪 数据处理
分 类 号：TP273]
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