登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

几类常见钥匙被增配使用后在母匙上形成痕迹的检验方法    

The marks' examining methods for several kinds of common keys after being copied

  

文献类型:期刊文章

作  者:白艳平[1] 王明直[1] 班茂森[1] 刘晋[1] 孙秋芬[1] 刘伟平[1] 胡书良[1] 梁永利[1] 蒋雪梅[1] 马新和[1] 车玉芬[2] 侯旭[2] 施大成[2]

机构地区:[1]公安部物证鉴定中心,北京100038 [2]北京市海淀公安分局刑侦支队技术队,100086

出  处:《刑事技术》

年  份:2007

卷  号:32

期  号:1

起止页码:16-18

语  种:中文

收录情况:NSSD、ZGKJHX、普通刊

摘  要:目的研究几类常见钥匙增配痕迹特征分布。方法用光学显微镜观察钥匙的增配痕迹。结果几类钥匙的增配痕迹能够观察到。结论通过检验不同种类钥匙上的痕迹特征可以确定是否为增配使用痕迹。

关 键 词:增配痕迹  光学显微镜 钥匙

分 类 号:D918.91[法学类]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心