期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京工业大学集成电路与系统集成实验室
年 份:2007
卷 号:6
期 号:1
起止页码:28-31
语 种:中文
收录情况:NSSD、普通刊
摘 要:目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量。
关 键 词:CMOS图像传感器 光栅传感器 细分 测量
分 类 号:V21]
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