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期刊文章详细信息

CMOS图像传感器在光栅传感器中的应用探讨    

Discussion about Application of CMOS Image Sensors in Grating Sensors

  

文献类型:期刊文章

作  者:石磊[1] 吴武臣[1]

机构地区:[1]北京工业大学集成电路与系统集成实验室

出  处:《安阳工学院学报》

年  份:2007

卷  号:6

期  号:1

起止页码:28-31

语  种:中文

收录情况:NSSD、普通刊

摘  要:目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量。

关 键 词:CMOS图像传感器 光栅传感器 细分  测量  

分 类 号:V21]

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