文献类型：期刊文章

作　　者：孙静[1] 杨穆尔[2]

机构地区：[1]清华大学经济管理学院现代管理研究中心教育部人文社会科学重点研究基地,北京100084 [2]清华大学经济管理学院管理科学与工程系,北京100084

出　　处：《清华大学学报（自然科学版）》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(70472010;70321001)

年　　份：2007

卷　　号：47

期　　号：12

起止页码：2184-2187

语　　种：中文

收录情况：AJ、AMR、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：为了满足传统的统计过程控制理论中统计量彼此独立的基本假设,研究了多元自相关过程的残差T2控制图的控制方法及其控制性能。针对一般多元自相关过程,在参数已知的条件下,讨论了多元自相关过程的残差T2控制图,给出多元自相关过程偏移量的定义。通过M on te C arlo模拟,得出该控制图在不同偏移量时的平均链长,在残差T2控制图的适用范围内给出平均链长与偏移量之间的经验公式。结果表明,残差T2控制图可以有效控制出现大偏移的多元自相关过程。

关 键 词：统计过程控制 多元自相关过程  T^2控制图  

分 类 号：O213.1]