期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京工业大学集成电路与系统实验室
年 份:2008
卷 号:17
期 号:4
起止页码:45-49
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:本文对逐次逼近型模数转换器(SAR ADC)的结构进行了介绍,并对影响ADC性能的主要因素加以分析。设计了一种基于二进制加权电容阵列的数字校准算法,并运用比较器自动失调校准技术,实现了高性能SAR ADC的设计。仿真结果表明该设计在120ksps的采样率下精度可达18位。
关 键 词:SAR ADC 校准 DAC 比较器 失调
分 类 号:TN402]
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