期刊文章详细信息
基于伪随机测试的模数混合信号内建自测试法
Study of analog and mixed-signal circuit BIST based on pesudorandom testing
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]桂林电子科技大学CAT研究室,广西桂林541004
基 金：广西自然科学基金 No.0542050~~
年 份：2008
卷 号：44
期 号：30
起止页码：87-89
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊
摘 要：利用伪随机序列作为测试激励,通过计算输入输出的互相关函数得到K维特征空间,在特征空间的基础上进行分析,判别电路有无故障,实验证明该方法简单可行,且提高了测试的效率和正确性,适用于模拟及混合信号测试,适用于混合信号电路的内建自测试(BIST)。
关 键 词：伪随机测试 互相关函数 混合信号电路 内建自测试
分 类 号：TN710]
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