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期刊文章详细信息

基于双向剪切干涉的CCD像素间距标定    

Measurement of Pixel Spacing in CCD Image Acquisition System Based on Double-shearing Interference

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘秉琦[1] 孙东平[1,2] 华文深[1] 骆新新[1]

机构地区:[1]军械工程学院光学与电子工程系,河北石家庄050003 [2]中国人民解放军75225部队,广东潮州515728

出  处:《半导体光电》

年  份:2008

卷  号:29

期  号:5

起止页码:788-791

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2004、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:为精确标定电荷耦合器件(CCD)图像采集系统的像素间距,提出了一种基于双向剪切干涉的标定方法,即通过双向剪切干涉两半场条纹宽度的相对关系来测量图像采集系统的像素间距。由理论推导建立了相应的标定模型,并对模型进行了实验验证和误差分析。实验结果表明,该方法的标定精度能达到0.04μm。

关 键 词:光学测量 像素间距  双向剪切干涉  图像采集

分 类 号:TN247]

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同被引文献:

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