文献类型：期刊文章

作　　者：孙东平[1,2] 刘秉琦[1] 华文深[1] 骆新新[1]

机构地区：[1]军械工程学院光学与电子工程系,石家庄050003 [2]75225部队,广东潮州515728

出　　处：《光子学报》

年　　份：2008

卷　　号：37

期　　号：11

起止页码：2327-2331

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2004、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：对双向剪切干涉理论和高斯光束传输特性进行了研究.提出了一种测量高斯光束远场发散角的方法:利用双向剪切干涉仪分别在激光传输路径上两个特定位置测出波前曲率半径,然后由曲率半径得出发散角.通过理论推导建立了相应的检测模型,并对模型进行了实验验证.实验测量和误差分析表明该方法的测量准确度能达到10″;发散角测量准确度的主要影响因素为干涉条纹宽度测量误差.

关 键 词：光学测量 双向剪切干涉  发散角 高斯光束

分 类 号：TN247]