文献类型：期刊文章

作　　者：刘秉琦[1] 孙东平[1,2] 华文深[1] 骆新新[1]

机构地区：[1]军械工程学院光学与电子工程系,石家庄050003 [2]中国人民解放军75225部队,广东潮州515728

出　　处：《半导体光电》

年　　份：2009

卷　　号：30

期　　号：1

起止页码：127-130

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为准确、方便地测量高斯光束远场发散角,提出了一种基于楔板剪切干涉的方法:将传统的双向剪切干涉仪进行改装,使能同时测出激光传输路径上两个不同位置处的波前曲率半径,并由曲率半径求出发散角。该方法解决了传统剪切干涉法只能定性判断光束准直状态而不能定量测量发散角的问题,实现了剪切干涉对基模高斯光束发散角的定量测量。实验测量误差和理论分析结果相符。误差分析表明影响发散角测量精度的主要因素为干涉条纹宽度测量误差。

关 键 词：光学测量 楔板剪切干涉  发散角 高斯光束

分 类 号：TN247]