文献类型：期刊文章

作　　者：黄永勤[1] 朱英[1] 巨鹏锦[1] 吴志勇[1] 陈诚[1]

机构地区：[1]国家高性能集成电路(上海)设计中心,上海201204

出　　处：《软件学报》

基　　金：国家高技术研究发展计划(863)No.2004AA1Z1080~~

年　　份：2009

卷　　号：20

期　　号：4

起止页码：1077-1086

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2008、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI(收录号：20091812067922)、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：微处理器设计日趋复杂,如何对微处理器设计进行有效而充分的验证,成为芯片流片成功的关键因素之一.在介绍微处理器功能验证的一般理论和方法的基础上,介绍了"申威-1号"高性能微处理器的功能验证所采用的验证策略及各种验证方法.RTL(register transfer level)级验证是功能验证的重点,模拟验证是"申威-1号"RTL级验证的主要验证手段.详细介绍了如何综合采用多种验证技术来解决RTL级模拟验证的几个关键问题:高质量测试激励生成、模拟结果正确性的快速判断以及验证覆盖率目标的实现.最后对各种验证方法所取得的验证效果进行了分析.

关 键 词：功能验证  伪随机测试激励  功能覆盖率  参考模型 实时比较  

分 类 号：TP302]