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期刊文章详细信息

低压电器多因子可靠性试验设计和分析    

Design and Analysis for Low Voltage Apparatus Multiple Factor Reliability Experiment

  

文献类型:期刊文章

作  者:任世彬[1] 陈鹏[1,2]

机构地区:[1]环宇集团有限公司,浙江温州325603 [2]河北工业大学,天津300130

出  处:《低压电器》

年  份:2009

期  号:21

起止页码:7-11

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、核心刊

摘  要:低压电器可靠性试验受多个因子的影响,如环境温湿度、触头电流、操作频繁程度等的影响。介绍了采用管理学的正交试验原理与方法进行设计试验,并通过实例说明了这种设计方法分析的具体过程。研究表明,针对低压电器可靠性试验受多因子影响的特点,该方法具有独特的数字处理功能。

关 键 词:低压电器 可靠性 多因子  统计分析

分 类 号:TM501]

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同被引文献:

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