登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

分子动力学模拟样品温度对F刻蚀SiC的影响  ( EI收录)  

Molecular Dynamic Simulation of Influence of Surface Temperature on Fluorine Etching of SiC

  

文献类型:期刊文章

作  者:宁建平[1] 秦尤敏[1] 吕晓丹[1] A.Bogaerts[4] 苟富君[1,2,3,4]

机构地区:[1]贵州大学等离子体与材料表面作用研究所,贵阳550025 [2]四川大学核科学与技术工程学院,成都610064 [3]比利时安特卫普大学化学系PLASMANT课题组,比利时B-2610 [4]荷兰皇家科学院等离子体所,荷兰2300

出  处:《真空科学与技术学报》

基  金:贵州省优秀青年科技人才培养计划(700968101)

年  份:2010

卷  号:30

期  号:2

起止页码:111-115

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、EI(收录号:20101912923109)、JST、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:利用分子动力学模拟方法研究了在低能F原子刻蚀SiC表面过程中样品温度对刻蚀的影响。由模拟结果可知,随着温度的升高,F在样品表面的沉积量和散射量均呈下降趋势,而发生溅射的F的量和与样品作用生成挥发物质的F的量逐渐增加。Si的刻蚀量均随着温度的升高而升高。样品中Si原子的刻蚀主要是通过生成SiF4得以实现的,C原子的刻蚀主要是通过生成CFx(x=1~3)等挥发性物质实现的。

关 键 词:分子动力学 刻蚀 样品温度  SIC

分 类 号:TN304.12]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心