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期刊文章详细信息

混合BIST对象建模及结构分析    

Object-modeling and structural analysis of mixed-signal BIST

  

文献类型:期刊文章

作  者:孙永建[1] 雷加[1]

机构地区:[1]桂林电子科技大学CAT研究室,桂林541004

出  处:《国外电子测量技术》

基  金:广西研究生教育创新计划(2009105950804M33)资助项目

年  份:2010

卷  号:29

期  号:5

起止页码:21-23

语  种:中文

收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:介绍一种基于谱分析的混合信号BIST分析方法,包括被测电路模型建立,即利用Volterra级数来描述,阐述这种BIST测试方案。以硬件开销较小的伪随机信号作为输入激励,通过谱估计方差较小的Welch算法进行谱分析,计算出Volterra频域核来进行故障诊断,可使测量过程高效、准确。最后利用MATLAB仿真分析验证了方案的可行性,使测试方案具有较好的实用性和通用性。

关 键 词:BIST VOLTERRA级数 功率谱 混合信号

分 类 号:TP206.3]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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