期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]桂林电子科技大学CAT研究室,桂林541004
基 金:广西研究生教育创新计划(2009105950804M33)资助项目
年 份:2010
卷 号:29
期 号:5
起止页码:21-23
语 种:中文
收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要:介绍一种基于谱分析的混合信号BIST分析方法,包括被测电路模型建立,即利用Volterra级数来描述,阐述这种BIST测试方案。以硬件开销较小的伪随机信号作为输入激励,通过谱估计方差较小的Welch算法进行谱分析,计算出Volterra频域核来进行故障诊断,可使测量过程高效、准确。最后利用MATLAB仿真分析验证了方案的可行性,使测试方案具有较好的实用性和通用性。
关 键 词:BIST VOLTERRA级数 功率谱 混合信号
分 类 号:TP206.3]
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