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期刊文章详细信息

高速互连中信号完整性测试单元分析    

Analasis of detecting sensor for signal integrity faults in high-speed interconnect

  

文献类型:期刊文章

作  者:郝慈环[1] 颜学龙[1]

机构地区:[1]桂林电子科技大学CAT研究室,桂林541004

出  处:《国外电子测量技术》

基  金:广西研究生教育创新计划基金(2009105950804M35)资助项目

年  份:2010

卷  号:29

期  号:5

起止页码:38-42

语  种:中文

收录情况:JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:介绍了高速互连中的信号完整性故障,主要探讨了由NMOS和PMOS管组成的内建高速互连检测单元,该单元用于对高速互连中的信号完整性故障进行测试。主要对已提出的2种故障检测单元进行了对比,分析了它们在信号完整性故障测试方面的不同特点,并用Hspice在有无噪声情况下进行了仿真,在理论分析和仿真结果方面显示了良好的一致性。

关 键 词:高速互连 信号完整性 测试  

分 类 号:TN41]

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同被引文献:

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