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椭偏法测量云母波片相位延迟量及双折射率(英文) ( EI收录)
Measure the Phase Retardation and Birefringence of the Mica Wave Plate Using the Spectroscopic Ellipsometer
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]曲阜师范大学物理工程学院山东省激光偏光与信息技术重点实验室,山东曲阜273165
基 金:Supported by the Promotive Research Fund for Excellent Young and Middle-aged Scientists of Shandong Provice(BS2010CL025)
年 份:2010
卷 号:39
期 号:11
起止页码:2025-2030
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2008、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:为了得到云母波片的相位延迟量和双折射率随波长的变化关系,利用椭偏光谱仪连续测量了云母波片在400~770nm光谱范围内的延迟量.在对云母波片进行校准后,测量的数据被光电探测器收集并输送到计算机,根据输出的数据可以得到云母波片的相位延迟量随波长的变化.利用测得的延迟量计算出了云母波片在一定光谱范围内的双折射率,得到了云母波片的双折射率色散曲线,并通过拟合得到了双折射率色散公式.该方法能测量任意波片的相位延迟量,并且具有测量方便、周期短、精度高等特点.
关 键 词:云母波片 相位延迟量 双折射率
分 类 号:O436.3]
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