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JEM-1200EX型电镜SENSITIVITY值与电子照射密度之间关系的测量分析
Measurement and analysis of the relationship between sensitivity value and the charge density by electronic irradiation on film of JEM\|1200EX type electron microscope
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]延边大学医学院电镜室,延吉133000
年 份：1999
卷 号：18
期 号：5
起止页码：562-566
语 种：中文
收录情况：CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要：ＳＥＮＳＩＴＩＶＩＴＹ（ＳＥ）代表电镜在照像时电子照射到电镜底片上的电子照射密度（σ）。通过测量、分析ＳＥ取各不同值时ＥＸＰＴＩＭＥ及其相应的ＣＵＲＲＥＮＴＤＥＮＳ的取值范围，计算出了与各ＳＥ值相对应的电子照射密度σ（即ＥＸＰＴＩＭＥ值与ＣＵＲＲＥＮＴＤＥＮＳ值的乘积）的取值范围。由此，分析。
关 键 词：电子显微镜 SENSITIVITY 电子照射密度
分 类 号：TN16]
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