登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

入射能量对H2^+与SiC表面相互作用影响的分子动力学模拟    

Molecular Dynamics Simulation of incident energy effects of H_2^+ interactions with SiC surface

  

文献类型:期刊文章

作  者:孙伟中[1] 赵成利[2] 刘华敏[1] 张浚源[1] 吕晓丹[2] 潘宇东[3] 苟富均[1,4]

机构地区:[1]四川大学原子核科学技术研究所,辐射物理及技术教育部重点实验室,成都610064 [2]贵州大学等离子体与材料表面作用研究所,聚变材料课题组,贵州550025 [3]核工业西南物理研究院,成都610041 [4]荷兰皇家科学院等离子体所,荷兰2300

出  处:《核聚变与等离子体物理》

基  金:国际热核聚变实验堆(ITER)计划专项资助课题(2009GB104006);贵州省优秀青年科技人才培养计划资助课题(700968101)

年  份:2011

卷  号:31

期  号:1

起止页码:85-90

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2008、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:用分子动力学方法研究了入射能量对H2+与SiC样品表面相互作用的影响。模拟结果表明,在H2+轰击SiC样品表面的初始阶段,样品中H原子的滞留量增加较快,其后,增加的速率减慢,并逐渐趋于饱和。入射能量越大,样品中H原子的滞留量也就越大。样品在H2+的轰击下,样品Si、C原子会发生刻蚀。入射能量越大,Si和C原子的刻蚀量越大。在相同入射能量下,Si原子的刻蚀量大于C原子。生成的产物中,以H,H2和SiH4为主;产物H2的量随着能量的增加而减小。其他产物随着入射能量的增加而增加。

关 键 词:分子动力学 入射能量 滞留H原子  刻蚀

分 类 号:TL627]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心