期刊文章详细信息
光电耦合器的长期贮存退化特性分析
The Long-term Storage Degradation Characteristics of Opto-coupler
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610 [2]电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广东广州510610
年 份：2013
卷 号：31
期 号：1
起止页码：27-30
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：介绍了某光电耦合器在自然条件下的贮存退化特性,长期贮存14年后出现了电流传输比和集电极暗电流等性能参数退化失效。其性能参数退化的原因为内部水汽含量高、胶体开裂。该试验结果对于贮存寿命设计和贮存延寿工程有一定的参考价值。
关 键 词：光电耦合器 贮存 退化 失效机理
分 类 号：TN622]
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