期刊文章详细信息
基于多频测试和神经网络的模拟电路故障诊断
Fault diagnosis of analog circuits based on multifrequency test and neural networks
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]北京大学深港产学研基地深圳市系统芯片设计(SOC)重点实验室,广东深圳518057
基 金:国家自然科学基金重点项目(No.60936005);深圳市杰青项目(No.JC201005280670A)
年 份:2013
卷 号:49
期 号:5
起止页码:1-3
语 种:中文
收录情况:AJ、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2013_2014、IC、INSPEC、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要:多频测试使模拟电路响应的故障状态和正常状态差异最大化,而神经网络具有解决复杂分类问题的能力。结合两者优点,提出一种基于多频测试和神经网络的故障诊断方法:通过灵敏度分析指导多频测试矢量生成,选择最优测试激励;提取各测试节点响应的故障信息,利用神经网络对各种状态下的特征向量进行分类决策,实现对故障元件的检测和定位。实验结果表明,该方法对模拟电路故障诊断非常有效,具有很强的实用性。
关 键 词:多频测试 神经网络 模拟电路 故障诊断 测试矢量生成
分 类 号:TP183]
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