文献类型：期刊文章

作　　者：钱诚[1,2] 樊嘉杰[2,3] 樊学军[2,4] 袁长安[2] 张国旗[1,2,5]

机构地区：[1]半导体照明联合创新国家重点实验室,中科院半导体研究所,北京100083 [2]常州市武进区半导体照明应用技术研究院,江苏常州213161 [3]河海大学机电工程学院,江苏常州213022 [4]拉玛尔大学机械工程系,美国博蒙特 [5]代尔夫特理工大学EEMCS学院,荷兰代尔夫特

出　　处：《照明工程学报》

基　　金：中国博士后科学基金面上资助项目(2015M570133);常州市科技计划项目应用基础研究计划(CJ20159053);国家国际合作专项项目(2015DFG52110)

年　　份：2016

卷　　号：27

期　　号：2

起止页码：43-48

语　　种：中文

收录情况：AJ、IC、JST、UPD、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：由于LED照明产品寿命较长,传统可靠性测试需要较高的成本和较长的运行时间,这极大地限制了LED照明产品的市场推广。因此,本文以LED光通量e指数衰减模型和Arrhenius加速模型为理论基础,提出一种适用于LED照明产品光通量衰减的加速试验方法。该方法用于评估LED照明产品可靠性时不需要被测产品所用光源的LM-80数据和基板焊点温度。模拟和实测试验的验证结果表明该方法可将LED可靠性测试通常要求的6000h测试时间缩短为2000h,并且可靠性评估结果和美国"能源之星"的评判结果基本一致。

关 键 词：LED照明产品 光通量衰减  加速实验  可靠性评估

分 类 号：TM923.34]