登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

ENIG焊盘润湿不良失效分析    

Failure Analysis of Dewetting of ENIG Pad

  

文献类型:期刊文章

作  者:李进[1,2] 张浩敏[1,2] 袁保玉[1,2]

机构地区:[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610 [2]宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司,浙江宁波315040

出  处:《电子产品可靠性与环境试验》

年  份:2017

卷  号:35

期  号:2

起止页码:30-33

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:针对化学镍金(ENIG)焊盘的上锡不良问题,选取了一个典型的案例进行分析。详细地介绍了分析的过程和手段,通过采用外观检查、金相切片、SEM&EDS等分析手段,发现了导致上锡不良的主要原因为黑焊盘造成的润湿不良。同时,总结和分析了导致此缺陷的原因和应采取的对策。

关 键 词:化学镍金 润湿不良  黑焊盘  失效分析  

分 类 号:U463.837]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心