期刊文章详细信息
微处理器基于功能覆盖率的伪随机验证方法
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]国家高性能集成电路(上海)设计中心,张衡路428号201204
年 份：2006
期 号：4
起止页码：59-60
语 种：中文
收录情况：内刊
摘 要：本文提出了一种基于功能覆盖率的伪随机验证方法,该方法能根据功能覆盖率的反馈自动生成测试向量进行测试,能提高验证的效率和质量,缩短设计时间,降低验证成本。
关 键 词：覆盖率 伪随机 功能验证 微处理器
分 类 号：TP332]
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