文献类型：期刊文章

作　　者：葛达[1,2] 梁福田[1] 王鑫喆[1] 冯博[1] 朱宇龙[1] 朱晨曦[1] 陈炼[1] 李锋[1] 尚爱国[2] 金革[1]

GE Da;LIANG Futian;WANG Xinzhe;FENG Bo;ZHU Yulong;ZHU Chenxi;CHEN Lian;LI Feng;SHANG Aiguo;JIN Ge(State Key Laboratory of Particle Detection and Electronics, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China;Rocket Force University of Engineer, The Chinese People ＇s Liberation Army, Xi ＇an 710025, China)

机构地区：[1]中国科学技术大学核探测与核电子学国家重点实验室,合肥230026 [2]中国人民解放军火箭军工程大学,西安710025

出　　处：《核技术》

基　　金：国家自然科学基金(No.61401422)资助~~

年　　份：2018

卷　　号：41

期　　号：4

起止页码：30-34

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2017_2018、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：针对高能物理实验中飞行时间探测器的时间测量高精度需求,基于0.13μmm互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)工艺设计了一种可应用在时间内插法中作为细计数模块的单周期时间数字转换器(Time to Digital Convertor,TDC),并为测试设计了一个闭环测试系统。通过实测数据分析,在相同的条件下设计对比试验,寻找TDC刻度非均匀性的来源,并给出相应的校准方法。测试结果表明:校准后TDC的分辨率达到57 ps,精度好于40 ps,达到了预期的设计目标。

关 键 词：专用集成电路 时间数字转换器  闭环测试系统  对比实验  

分 类 号：TL824]