期刊文章详细信息
低压元件的温升测量方法评定
Evaluation of Temperature Rise Measurement Method for Low Voltage Components
文献类型：期刊文章
XUE Hao(Tianjin Institute of Electrical Technology,Tianjin 30023)
机构地区：[1]天津市电工技术科学研究院,天津300232
年 份：2018
期 号：3
起止页码：55-57
语 种：中文
收录情况：CAS、普通刊
摘 要：通过万能式断路器的温升试验,比对使用铜排连接与软线连接的差异,运用不确定度分析方法对试验数据进行分析。通过计算得出:采用进线软线、出线铜排的不确定度为0.1414;采用进线铜排、出线铜排的不确定度为0.1224。对于低压电气元件的温升试验,可以使用铜排与铜排连接,也可以使用铜排与软线连接,两种试验方式所得试验结果可以近似相等。
关 键 词：万能断路器 温升试验 不确定度 分析
分 类 号：TM561]
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