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期刊文章详细信息

集成电路测试技术的应用研究    

  

文献类型:期刊文章

作  者:王辉[1]

机构地区:[1]天津市电子仪表实验所

出  处:《电子世界》

年  份:2018

卷  号:0

期  号:14

起止页码:64-64

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:随着我国科技水平的不断发展,电子信息技术也取得了崭新的突破,在这种趋势之下,集成电路测试技术被广泛应用起来。由于集成电路设计过程中极为复杂,因此对于相关人员而言在基本理论和操作上有严格的要求,这也是保障电子产品质量的主要途径。基于此,本文就集成电路测试技术的应用展开一系列分析,给相关人士做出参考。

关 键 词:集成电路 测试技术 研究  

分 类 号:TN015]

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同被引文献:

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