文献类型：期刊文章

作　　者：汤仕晖[1,2] 王丽娜[1,2] 钱雨鑫[1,2] 王长時[1,2]

TANG Shihui;WANG Lina;QIAN Yuxin;WANG Changqi(CEPREI,Guangzhou 510610,China;Ningbo CEPREI IT Research Institute Co.,Ltd.,Ningbo 315040,China)

机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610 [2]宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司,浙江宁波315040

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》

年　　份：2019

卷　　号：37

期　　号：A01

起止页码：98-105

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：基于STM32F103ZET6高性能ARM单片机,通过采用串口通信、LABVIEW上位机编程等技术,设计了一套完整的智能通断电控制装置,并详细地介绍了其硬件电路、嵌入式单片机程序和PC端上位机软件的设计方法。该装置能够完全满足汽车电子产品对于可靠性与环境试验过程中所需的通断电要求,而且能够对样品的通断电情况进行实时监控,此外可同时提供8路独立的输出通道,极大地提高了试验效率,具有较高的实用性.

关 键 词：STM32 LABVffiW  通断电控制装置  

分 类 号：TP273]