期刊文章详细信息
电子元器件低频电噪声测试关键技术研究
Research on Key Technology of Low Frequency Electrical Noise Measurement for Electronic Components
文献类型：期刊文章
FU Haibin(Mudanjiang Municipal Government,Affairs Information Center,Mudanjiang 157022,China)
机构地区：[1]牡丹江市人民政府政务信息化中心,黑龙江牡丹江157022
年 份：2020
卷 号：4
期 号：10
起止页码：58-59
语 种：中文
收录情况：普通刊
摘 要：电子元器件的缺陷之处,主要呈现在载流子微观运动中,这项微观运动会导致电子元件出现低频噪声。文章主要对电子元器件低频微观噪声进行噪声模型建立,同时对噪声模型的相应参数进行了介绍,主要通过几大方面进行噪声测试技术原理的分析,分别是偏置技术、放大技术、数据处理技术,同时对这些技术在电阻元器件噪声测试中的应用效果进行了观察表述。
关 键 词：电子元器件 低频噪声 测试参数
分 类 号：TN606]
参考文献：
正在载入数据...
二级参考文献：
正在载入数据...
耦合文献：
正在载入数据...
引证文献：
正在载入数据...
二级引证文献：
正在载入数据...
同被引文献：
正在载入数据...
