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期刊文章详细信息

熔注炸药低比压顺序凝固界面生长规律研究    

Effect of Solidification Temperature on Charge Density

  

文献类型:期刊文章

作  者:高丰[1] 黄求安[1] 王冠一[2]

GAO Feng;HUANG Qiuan;WANG Guanyi(Automation Research Institute of China South Industries Group Corporation, Mianyang 621000, China;State Key Laboratory of Explosion Science and Technology, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China)

机构地区:[1]中国兵器装备集团自动化研究所,四川绵阳621000 [2]北京理工大学爆炸科学与技术国家重点实验室,北京100081

出  处:《兵器装备工程学报》

年  份:2020

卷  号:41

期  号:8

起止页码:126-130

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:采用低比压顺序凝固装药技术,进行改B熔注炸药装药研究,建立熔注装药热传导有限元模型,模拟改B炸药凝固过程,预测炸药凝固界面变化、生长;通过实验得到改B炸药凝固成型时的温度场随时间的变化情况,动态研究炸药内部温度场及其变化规律,得到改B炸药低比压顺序凝固界面移动速度和生长规律,其结果与模拟结果吻合。

关 键 词:弹药装药 低比压顺序凝固  凝固温度  界面生长  

分 类 号:TJ55]

参考文献:

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同被引文献:

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