文献类型：期刊文章

作　　者：谢礼[1] 郑希[1] 于梦洁[1] 王伟兰[1] 郭建胜[2] 张仲凯[3] 洪健[1]

XIE Li;ZHENG Xi;YU Meng-jie;WANG Wei-lan;GUO Jian-sheng;ZHANG Zhong-kai;HONG Jian(Analysis Center of Agrobiology and Environmental Science,Zhejiang University,Hangzhou Zhejiang 310058;Center of Cryo-Electron Microscopy,Zhejiang University,Hangzhou Zhejiang 310058;Institute of Biotechnology and Genetic Resources,Yunnan Academy of Agricultural Sciences,Kunming Yunnan 650224,China)

机构地区：[1]浙江大学农生环测试中心,浙江杭州310058 [2]浙江大学冷冻电镜中心,浙江杭州310058 [3]云南省农业科学院生物技术与种质资源研究所,云南昆明650224

出　　处：《电子显微学报》

基　　金：国家自然科学基金-云南联合基金重点支持项目(No.U1802235).

年　　份：2020

卷　　号：39

期　　号：6

起止页码：707-714

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD_E2019_2020、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：用扫描电镜的背散射电子成像,可以得到样品表面薄层区域的电子密度信息。本研究利用扫描电镜背散射电子成像模式进行超薄切片的超微结构大视野观察、辅助原子力显微镜探针精细定位以及超薄切片辅助修块定位。在超微结构观察中,消除了载网网格对切片的遮挡,实现了电镜载网超薄切片的扫描电镜大视野成像,细胞结构分辨率接近于透射电镜。在原子力显微技术中,通过不同放大倍数下对应扫描电镜背散射电子像与原子力显微镜光学辅助图中样品特征的方法,辅助原子力显微镜进行精细探针定位。在超薄切片修块中,可以用扫描电镜背散射电子像观察树脂包埋块的切面来检验修块结果,提高修块精度和效率。

关 键 词：扫描电子显微镜 背散射电子成像  超微结构 原子力显微镜 修块  

分 类 号：Q2-33] Q94-33