期刊文章详细信息
基于图像处理技术的芯片表面缺陷检测系统的设计与实现
Design and implementation of chip surface defect detection system based on image processing technology
文献类型:期刊文章
ZHOU Yangmei;LUO Kaili;SUN Huaiyi;MO Bin(Chongqing Institute of Science and Technology)
机构地区:[1]重庆市科学技术研究院,重庆401147 [2]《科学咨询》杂志社
基 金:基于视频识别的卡基芯片表面检测与分级技术研究。
年 份:2021
期 号:1
起止页码:182-184
语 种:中文
收录情况:ZGKJHX、普通刊
摘 要:传统方法对芯片表面缺陷检测,存在检测准确性低,检测速度慢的问题,针对上述问题,设计了一种基于图像处理的芯片表面缺陷检测系统,该系统分为3个部分,第一部分,对图像进行预处理,包括去除噪声和图像增强,第二部分,芯片位置检测和芯片缺陷的边缘提取,第三对芯片的表面缺陷进行区域分割和缺陷区域的像素测量。结果表明:本系统成功实现了芯片表面的缺陷检测,检测效率是人工检测的20多倍。
关 键 词:图像处理 图像增强 边缘提取 区域分割
分 类 号:TP391.41] TN407[计算机类]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...